Szczegóły Szczegóły PDF BIBTEX RIS Tytuł artykułu Some quantum limits for scaling of electronic devices – estimations and measurements Tytuł czasopisma Metrology and Measurement Systems Rocznik 2012 Numer No 3 Autorzy Nawrocki, Waldemar ; Shukrinov, Yury M. Słowa kluczowe nanostructure ; quantum effect ; integrated circuits. Wydział PAN Nauki Techniczne Zakres 481-488 Wydawca Polish Academy of Sciences Committee on Metrology and Scientific Instrumentation Data 2012 Typ Artykuły / Articles Identyfikator DOI: 10.2478/v10178-012-0041-8 ; ISSN 2080-9050, e-ISSN 2300-1941 Źródło Metrology and Measurement Systems; 2012; No 3; 481-488 <div class="test"></div>