Szczegóły Szczegóły PDF BIBTEX RIS Tytuł artykułu Noise Measurements Of Resistors With The Use Of Dual-Phase Virtual Lock-In Technique Tytuł czasopisma Metrology and Measurement Systems Rocznik 2015 Wolumin vol. 22 Numer No 4 Autorzy Stadler, Adam Witold ; Kolek, Andrzej ; Zawiślak, Zbigniew ; Dziedzic, Andrzej Słowa kluczowe 1/f noise ; polymer thick-film resistor ; low-frequency noise measurements ; virtual lock-in Wydział PAN Nauki Techniczne Zakres 503-512 Wydawca Polish Academy of Sciences Committee on Metrology and Scientific Instrumentation Data 2015[2015.01.01 AD - 2015.12.31 AD] Typ Artykuły / Articles Identyfikator DOI: 10.1515/mms-2015-0051 ; ISSN 2080-9050, e-ISSN 2300-1941 Źródło Metrology and Measurement Systems; 2015; vol. 22; No 4; 503-512 <div class="test"></div>