Tytuł artykułu

ARMScope – the versatile platform for scanning probe microscopy systems

Tytuł czasopisma

Metrology and Measurement Systems

Rocznik

2020

Wolumin

vol. 27

Numer

No 1

Autorzy

Świadkowski, Bartosz ; Piasecki, Tomasz ; Rudek, Maciej ; Świątkowski, Michał ; Gajewski, Krzysztof ; Majstrzyk, Wojciech ; Babij, Michał ; Dzierka, Andrzej ; Gotszalk, Teodor

Słowa kluczowe

Scanning probe microscopy ; AFM ; Kelvin Probe force microscopy ; scanning tunnelling microscopy

Wydział PAN

Nauki Techniczne

Zakres

119-130

Wydawca

Polish Academy of Sciences Committee on Metrology and Scientific Instrumentation

Data

2020.03.18

Typ

Article

Identyfikator

DOI: 10.24425/mms.2020.131711 ; ISSN 2080-9050, e-ISSN 2300-1941

Źródło

Metrology and Measurement Systems; 2020; vol. 27; No 1; 119-130