Title

Layer thickness measurement of technically anodised aluminium surfaces by using goniometric scattered light

Journal title

Metrology and Measurement Systems

Yearbook

2021

Volume

vol. 28

Issue

No 2

Affiliation

Geisler, Tobias : Universität Siegen, Fakultät IV, Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Montage, PROTECH-Institut für Produktionstechnik, Paul-Bonatz-Str. 9-11, 57076 Siegen, Germany ; Manns, Martin : Universität Siegen, Fakultät IV, Lehrstuhl für Fertigungsautomatisierung und Montage, PROTECH-Institut für Produktionstechnik, Paul-Bonatz-Str. 9-11, 57076 Siegen, Germany

Authors

Geisler, Tobias ; Manns, Martin

Keywords

anodizing ; layer thickness ; scattered light ; contactless

Divisions of PAS

Nauki Techniczne

Coverage

371-382

Publisher

Polish Academy of Sciences Committee on Metrology and Scientific Instrumentation

Date

2021.07.01

Type

Article

Identifier

DOI: 10.24425/mms.2021.136613