Tytuł artykułu

Study of Capacitor & Diode Aging effects on Output Ripple in Voltage Regulators and Prognostic Detection of Failure

Tytuł czasopisma

International Journal of Electronics and Telecommunications

Rocznik

2022

Wolumin

vol. 68

Numer

No 2

Autorzy

Sharma K, Preethi ; Vijayakumar, T.

Afiliacje

Sharma K, Preethi : Department of ECE, SJB Institute of Technology, Bengaluru, India ; Vijayakumar, T. : Department of ECE, SJB Institute of Technology, Bengaluru, India

Słowa kluczowe

buck ; MOSFET ; ESR ; SMPS ; voltage ripple

Wydział PAN

Nauki Techniczne

Zakres

281-286

Wydawca

Polish Academy of Sciences Committee of Electronics and Telecommunications

Data

2022.06.12

Typ

Article

Identyfikator

DOI: 10.24425/ijet.2022.139879 ; eISSN 2300-1933 (since 2013) ; ISSN 2081-8491 (until 2012)